短暂脑缺血发作与磁共振的研究

摘要

目的对113例TIA患者进行磁共振影检查以研究其转归。方法将113例TIA患者分为：A组：2周内无TIA发作；B组：2周内反复有TIA发作；C组：2周内发展为缺血性脑卒中。采用0．5T超导永磁磁共振成像仪分别于住院时、住院后2周对患者成像扫描。结果3组病人MRI检查结果在各个序列的责任病灶阳性率存在显著差异，其差别有统计学意义（P〈0．05）。2周后A组阳性率明显降低；B组较2周前低近一半；C组所有病例均于不同序列出现改变。结论TIA早期影像改变与其预后有显著相关性。