首页> 中文期刊> 《现代电子技术》 >利用过采样技术提高ADC测量分辨率

利用过采样技术提高ADC测量分辨率

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

针对目前单片机内嵌ADC分辨率较低,而外接高分辨率ADC成本又较高的情况,提出了用"过采样"技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善,从而提高ADC测量的分辨率.并利用Matlab对其结论进行仿真,且在TMS320LF2407 DSP上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高.

著录项

来源
《现代电子技术》 |2007年第12期|74-7679|共4页
作者
刘青兰; 方志刚; 邵志学;
展开▼
作者单位

解放军理工大学,工程兵工程学院,江苏,南京,210007;

解放军理工大学,工程兵工程学院,江苏,南京,210007;

解放军理工大学,工程兵工程学院,江苏,南京,210007;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
过采样; 模/数转换器; 数据采集; 数字信号处理;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率 [J] . 李刚 ,张丽君 ,林凌 . 纳米技术与精密工程 . 2009,第001期
2. 根据过采样和求均值理论提高ADC测量分辨率 [J] . 孙友伟 ,张洪 ,孙书娜 . 电子器件 . 2003,第003期
3. 基于过采样技术提高ADC分辨率探析 [J] . 李君 . 现代电子技术 . 2010,第006期
4. 基于过采样技术提高ADC分辨率 [J] . 王志坚 . 山西焦煤科技 . 2008,第011期
5. 基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现 [J] . 李国 . 计算机工程 . 2005,第0z1期
6. 利用过采样法提高A/D分辨率和信噪比 [C] . 王萍 ,李小京 . 中国仪器仪表学会第四届青年学术会议 . 2002
7. 提高Pipeline-ADC分辨率与SFDR性能的内部Dither技术研究 [A] . 罗茂根 . 2012

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号