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Radi.C; 沈建波;
不详;
自动缺陷检查; 缺陷密度; 硅片; 成品率;
机译:一种使用最佳模块尺寸减少缺陷密度的改进方法
机译:各种缺陷密度分布的集成电路成品率和时变可靠性的关系
机译:使用自动缺陷分类和模拟,提高标线检查效率并减少14nm处的晶圆打印检查
机译:一种用于集成电路制造过程评估,问题诊断和成品率分析的测试方法和测试芯片设计策略。
机译:通过PECVD沉积低缺陷密度nc-Si:H薄膜的便捷有效方法
机译:锌间隙和ZnO的氧空位在光催化中的作用:一种自下而上的方法来控制缺陷密度
机译:新型碳化钽(TaC)衬底上低缺陷密度氮化镓(GaN)薄膜的生长,提高器件性能
机译:自动检查能够提高检查效率并减少检查缺陷的车辆轮辋泄漏的方法
机译:用于检查能够提高准确性的缺陷和减少检查时间的缺陷的设备和方法
机译:轮廓检查缺陷缺陷密度的在绝缘体衬底复合材料上制造半导体的方法
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