一种低功耗BIST测试方法

摘要

通过分析RTL的代码和RTL的故障仿真可得到一组屏蔽向量,将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL的功能信息进行低功耗BIST测试的方法,并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程。