HCI体系P-350萃取色谱分离痕量的Ga、In、Tl、Hf.Zr、Th和U及其在岩石样应用

摘要

本文研究了Ga、In、Tl、Hf、Zr、Th和U在HCl介质中P-350柱上吸留行为及分步洗脱的条件,成功应用于岩石样品中测定这些元素.