首页> 中文期刊> 《冶金分析》 >ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分

ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分

         

摘要

对铱化合物中的常见微量杂质Al,Ba,Au,Pd,Pt,Ru,Rh进行了分析研究.利用ICP-AES仪器的优异性能,通过对基体效应、光谱干扰、酸度影响、等离子体测定条件等方面的考察,确定了在铱基体中共存微量离子的检测条件.各离子的检出限分别为:Pt 0.39μg/mL,Pd 0.03μg/mL,Al 0.051μg/mL,Ba 0.0027μg/mL,Au 0.025μg/mL,Ru 0.045μg/mL,Rh 0.13μg/mL.各金属离子回收率:95%~102%.相对标准偏差RSD均小于10%.本文所建立的方法,准确、快速、方便,完全能满足该类试样分析的要求.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号