首页> 中文期刊> 《制造业自动化》 >高密度在系统可编程逻辑器件在全数字转速测量中的应用

高密度在系统可编程逻辑器件在全数字转速测量中的应用

         

摘要

首先介绍了在系统可编程技术及器件的特点,分析了变M/T转速测量电路的工作原理,并由高密度在系统可编程逻辑器件设计了单片全数字转速测量电路。运行结果表明所设计的电路完全达到设计要求。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号