工频磁场对人晶状体上皮细胞DNA双链断裂的影响

摘要

目的:采用γH2AX免疫荧光法观察工频磁场对人晶状体上皮细胞DNA双链断裂的影响。方法:将人晶状体上皮细胞暴露于0.4 mT、50 Hz工频磁场2 h、6 h、12 h、24 h、48 h,以0.1μmol/L的DNA损伤剂4-硝基喹啉-1-氧化物作用1 h作为阳性对照,结束处理后进行γH2AX免疫荧光检测。计算细胞平均焦点数。将细胞平均焦点数及焦点阳性细胞率作为评价细胞DNA双链断裂程度的指标。结果:工频磁场暴露24 h的平均焦点数、γH2AX焦点阳性细胞率分别为(2.93±0.43)、(27.88±2.59)%,与假辐照组(1.77±0.37)、(19.38±2.70)%相比,差异具有显著性(P0.05)。结论:体外实验表明,0.4 mT工频磁场长时间辐照可以使人晶状体上皮细胞DNA双链断裂增加。