细密刻线多层膜的磁电阻特性和FMR谱

摘要

研究了细密刻线的８１ＮｉＦｅ／Ｃｒ多层膜的磁电阻和铁磁共振谱，发现在这种多层膜中的畴模铁磁共振并非与条形畴相联系。证实了横向磁电阻响应中Ｂａｒｋｈａｕｓｅｎ噪音消失了。