表面活性剂浓度对介孔二氧化硅形貌的影响

摘要

以十六烷基氯化吡啶(C16PyCl)为模板剂,正硅酸四乙酯(TEOS)为硅前驱体,甲酰胺为助溶剂,在酸性条件下合成了不同形状的纳米介孔二氧化硅,并使用扫描电镜(SEM)、小角X射线衍射(SXRD)和N2气体吸附技术对其进行了表征.结果表明合成样品具有MCM-41的有序六方孔道结构,煅烧样品的吸附测量显示典型的IV型吸附等温线和H1型滞后环,孔径分布较窄.随着C16PyCl浓度的增加,产物形貌由不规则的螺旋球逐渐过渡到表面光洁的多面体形状.