错位云纹干涉法─测应变场

摘要

本文采用高密度（６００ｍｍ－１）位相型正交闪耀衍射光栅的试件栅，提出了几种错位云纹干涉法，获得了基本上不包含初始条纹的四个位移分量偏导数 场和三个全场位移和应变花 条纹图样；由此可以分别确定试件表面上各点的全应变信息（εｘ，εｙ，γｘｙ）；并实现了应变条纹实时观测。