纳米SiO2颗粒在HepG2细胞中的分布及其细胞毒性

摘要

目的:检测纳米SiO2颗粒作用于HepG2细胞后纳米颗粒的细胞摄取、分布情况及颗粒对细胞的毒性作用,初步探讨纳米颗粒的摄取、分布与细胞毒性的关系.方法:采用透射电镜(TEM)及动态光散射法检测纳米SiO2颗粒的表征;纳米SiO2颗粒作用HepG2细胞后,用荧光显微镜及TEM观察纳米SiO2颗粒的细胞摄取及细胞内分布情况;不同浓度纳米SiO2颗粒(0、25、50、100 及200 mg·L-1)作用于HepG2细胞24 h后,采用MTT法检测细胞存活率,用Rhodamine123标记流式细胞术检测线粒体膜电位变化.结果:TEM结果显示,纳米SiO2颗粒呈球形,分散性好,大小均一.动态光散射法结果显示,纳米SiO2颗粒在无血清DMEM中粒径约为94 nm,分散性较好.纳米SiO2颗粒作用于HepG2细胞3 h即可进入细胞;作用24 h后,可以单一颗粒或成簇的形态分散在胞质内,并在线粒体等细胞器内沉积;不同浓度纳米SiO2颗粒作用于细胞24 h后,各组细胞存活率及线粒体膜电位较对照组均有显著下降(P＜0.05),且随着剂量增加细胞存活率和线粒体膜电位降低.结论:纳米SiO2颗粒进入细胞并在细胞器中沉积,可导致线粒体等细胞器的损伤,进而产生细胞毒性作用,抑制细胞增殖.