缩短电子设备寿命试验时间的不确定性系统模型与方法

蔡明山

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采用泛灰色不确定性系统理论中的USM-1模型,运用Matlab程序对电子设备失效寿命试验数据进行了数值拟合与预测,给出了模型精度检验方法.运用该模型可缩短试验时间,节约试验费用.实例表明,不确定性系统模型USM-1应用于电子设备失效寿命试验数据处理是可行的,该模型不需要累加生成和累减生成,不仅适合于等间距建模,也适合于非等间距建模,具有精度高、使用简便的优点.

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来源
《江汉大学学报（自然科学版）》 |2005年第3期|31-33|共3页
作者
蔡明山;
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作者单位

湖南文理学院,电气工程系,湖南,常德,415000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试技术及设备;模糊数学;
关键词
不确定性系统; USM-1模型; 泛灰数学; 电子设备寿命试验; 数据处理;

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