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X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅

         

摘要

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法测定重晶石中钡、锶、铁、铝、硅。采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的基体效应。测定重晶石试样各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于5.5%,结果与化学分析法吻合。

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