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扫描电子显微镜在纳米材料研究中的应用

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摘要

笔者简要介绍了扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其特点,详细阐述了荷电效应、像散对纳束材料成像的影响及解决方法,讨论了加速电压、物镜光栅、工作距离等SEM测试条件之间的相互作用关系及对纳米材料表面形态图像清晰度的影响.

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来源
《哈尔滨职业技术学院学报》 |2009年第4期|P.|共3页
作者
唐晓山;
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作者单位

湛江师范学院,广东,湛江,524048;

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正文语种 CHI
中图分类特种结构材料;
关键词
扫描电子显微镜; 荷电效应; 像散; 加速电压;

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