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李悦; 朱翔; 姜会龙; 韩建伟;
中国科学院国家空间科学中心;
北京100190;
中国科学院大学;
北京100049;
激光故障注入; SRAM; 故障模型; 单比特翻转; 多比特翻转;
机译:脉冲激光测量的SRAM中单事件翻转阈值的空间依赖性的含义
机译:低电压13T抗辐射SRAM位单元的单粒子翻转耐受性研究
机译:使用MC-50回旋加速器分析SRAM器件的单事件翻转
机译:SRAM存储单元中激光引起的故障的故障模型分析
机译:超短激光脉冲的单次检测及其在透明电介质中的非线性传播和射频频谱分析中的应用
机译:在欧洲X射线自由电子激光器上使用超短脉冲对单粒子成像进行从头到尾的模拟
机译:CmOs sRam中单粒子翻转的分析模型和实验结果比较
机译:“提供一种用于提供抗单粒子翻转脉冲宽度调制器集成电路”
机译:提供一种用于提供抗单粒子翻转脉冲宽度调制器集成电路
机译:电路,用于提供抗单粒子翻转脉冲宽度调制器集成电路
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