基于部分向量复用和变游程编码的二级SoC测试压缩

摘要

提出了一种适用于基于核的SoC测试数据压缩的新方法,先将不同待测核对应的测试集中的测试向量部分重叠起来,形成一个重叠向量,对这个重叠向量进行变游程编码(VRL),以进一步压缩测试向量.由于测试应用时间与重叠向量的长度成正比,而重叠向量的长度要远小于原始测试向量的长度总和,从而减少了测试时间.变游程编码最大化了压缩效率.实验结果表明,与已有的算法相比,该方法减少了测试应用的时间,提高了数据的压缩率.