基于扫描隧道显微镜的原位表征技术

摘要

扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,STM)是研究表面原子结构和表面电子态的强大工具,以STM为基础,作者发展了原位微区四探针电输运测量及交流互感抗磁测量系统,并且保留STM原有功能不受影响.这样,不仅能够在极低温、强磁场、超高真空的环境下用STM研究样品表面的晶体结构和电子态,也可以用原位微区四探针电输运测量来研究样品的输运特性,还可以用原位的交流互感抗磁测量来研究样品的抗磁特性.通过把这些信息对比,可以更好地了解样品物性与原子结构和电子结构的关系,准确地理解表面的物理性质.这种联合实验技术非常适合应用于低维及界面超导研究.