基于时间特性的周期BIT数据分析模型研究

摘要

机内自检(BIT)是系统故障检测的重要手段,在电子系统中被广泛应用.随着系统越来越大,BIT数据越来越多.快速、准确的从BIT记录中获取有效的故障信息,并进行初步的故障隔离,对于大型电子系统事后检测分析具有重要的意义.本文主要研究了周期BIT数据分析方法,提出了利用周期BIT数据的时间标签特性,进行聚类分析,实现故障事件的初步融合,从而为进一步的故障推理提供了唯一性故障数据;论文还讨论了该方法在故障隔离方面的应用情况.