X射线荧光光谱法测定硅酸锆方法研究

摘要

以ZrSiO4、SiO2、ZrO2、钾长石等标准物质及它们的合成标样来拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)对锆石等含锆化合物的精确测定,同时测定硅酸锆样品中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O、P2O5、SO3、ZrO2、HfO2等主次组分.发现样品与99.5％的四硼酸锂做熔剂在熔融稀释比为1:10时混合均匀,加入NH4Br为脱模剂的情况下,在1050-1100℃下预熔180 s后熔融900 s并静止10 s,制得测定熔融片,其结果与标准物质认定值基本一致,各组分测定结果的测量误差小于0.5％,相对标准偏差(RSD,n=5)小于10％.