全光纤双窗口高分辨率延时自外差测谱系统

摘要

本文介绍了一种新型全光纤双窗口高分辨率延时自外差测谱系统,其分辨率为15kHz,灵敏度优于一14.5 dB,应用该系统,我们对1.5μm 和1.3μm 波段带隔离器窄线宽半导体激光器进行了测试,线窄分别为900 kHz 和4 MHz.线宽-功率采积分别为586 kHz·mW 和22 MHz·mW.这些结果和理论计算结果相吻合.