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梁华国; 黄正峰; 王伟; 詹文法;
合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;
中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室,北京,100190;
软错误; 双模互锁; 单事件翻转; C单元;
机译:采用16 nm FinFET技术的电荷控制锁存器设计,可改善软错误硬度
机译:软错误拦截锁存器:双节点电荷共享SEU容忍设计
机译:15mm工艺的低功耗软错误锁存器设计
机译:一种紧凑的可调带通滤波器,使用可切换变容调节双模谐振器
机译:用于建模和缓解纳米级静态CMOS逻辑电路中软错误的有效技术
机译:交叉锁定十字交叉筋腱修复(改进的阿德莱德修复)的互锁修改:静态和动态的生物力学评估
机译:软错误过滤和硬化锁存器
机译:静态CmOs Rams中宇宙离子诱导软错误的分析与预防
机译:与相邻DICE锁存器共享有源区的双互锁存储单元(DICE)锁存器和包括其的半导体器件
机译:软错误恢复锁存器
机译:时钟米勒锁存器设计提高了软错误率
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