数码电子雷管抗静电性能研究

摘要

为了研究数码电子雷管的抗静电性能,采用静电感度仪,对数码电子雷管以脚-脚和脚-壳放电方式进行不同电压的静电试验,分析静电放电形式、放电位置和放电次数对数码电子雷管性能的影响.研究发现,以脚-脚形式放电时,静电会导致数码电子雷管芯片失效,但不会导致雷管发火;脚-壳形式放电时,只有形成静电放电通道才会对雷管造成损伤,芯片失效率因放电位置不同而差异较大,多次的静电作用会增加芯片失效率.