首页> 中文期刊> 《红外技术》 >基于铁帽和盘面温升特征的劣化绝缘子红外检测方法

基于铁帽和盘面温升特征的劣化绝缘子红外检测方法

         

摘要

为了解决传统绝缘子红外检测方法存在检测盲区的问题,在绝缘子盘面温升规律仿真分析和实验研究的基础上,将盘面特征纳入劣化绝缘子诊断判据中,提出了一种基于铁帽和盘面温升特征的劣化绝缘子红外检测方法,现场实测验证情况表明该方法可以提高绝缘子检测的准确率.绝缘子盘面温升规律实验研究表明:劣化绝缘子盘面温度较相邻正常绝缘子低,呈"负温升"特征;"负温升"特征的明显程度与劣化绝缘子在串中位置、环境湿度和表面污秽状况有关:两端位置时劣化绝缘子盘面"负温升"特征更明显,湿度大时劣化绝缘子盘面"负温升"特征更明显.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号