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刘杰; 赵鑫; 李可;
中国电子技术标准化研究院;
延迟时间; 测试; V93K; 示波器;
机译:逆转随机样本测量的方法,用于用集成电路元素中的延迟时间进行延迟时间测量
机译:洁净室中粒径小于0.1μm的颗粒的测量-洁净室中粒径小于0.1μm的颗粒的存在和测量方法
机译:在清洁室内测量粒径小于0.1μm的粒子在洁净室中的颗粒的存在和测量方法小于0.1μm
机译:一种新型的逐步绝热充电电路,其再生器中的电容小于负载电容
机译:无稀土抗钙钛矿Sr2.5-xBa0.5Al1-xP xO4F(0小于或等于x小于或等于0.15),Sr3Al1-xY xO4F(0小于或等于0)的固态合成和表征x小于或等于1)和Sr2.5-x / 2Ba0.5 Al1-xHfxO4F(0小于或等于x小于或等于0.1)作为潜在的荧光粉材料。
机译:膜电容测量的再探讨:电容值对非等势神经元的测量方法
机译:TFT-LCD的电容灵敏度分析和门延迟时间最小化的计算统计方法
机译:利用电容式负载位移传感器进行力调制的纳米压痕和接触刚度测量
机译:通过使用该装置确定电容传感器的测量电容器的电容的方法,包括将测量电容器与先前放电的负载电容器连接以重新加载存储在测量电容器上的电荷
机译:电解电容器劣化确定方法,包括基于测得的电压计算延迟时间,并将延迟时间与预定延迟时间进行比较,其中时间差是衡量电容器劣化的量度
机译:单向延迟时间测量方法和方法,单向延迟时间测量装置以及单向延迟时间测量程序
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