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钴玻璃熔片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中各组分

         

摘要

使用混合熔剂、三氧化二钴与试样在高温中熔融制得钴玻璃熔片,以x荧光内标法分析铁矿石中各组分,并采用理论α系数法进行机体校正,得到了准确度较高的定量分析结果.应用于我单位铁矿石常规分析检测,效果理想.

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