首页> 中文期刊> 《国外核聚变与等离子体应用》 >在Tore Supra上离子回旋共振加热期间的边缘等离子体密度对流

在Tore Supra上离子回旋共振加热期间的边缘等离子体密度对流

         

摘要

在托卡马克Toce Supra中,从实验和数值方面研究了在与离子回旋共振加热(ICRH)天线磁连接的削删层中二维边缘等离子体密度分布,在低再循环区域中朗缪尔探针测量证明在负载ICRH天线前面局部密度减小(“排出”效应),也观测到热通量和天线腐蚀的上下不对称性,并且这种不对称性是与局部密度的极向变化相联系的,这些密度再分布归于与射频(rf)鞘有关的一种E×B对流过程,为了评估这一解释,开发用来模拟在一个ICRH天线附近密度分布的2D输运编码CELIS,并在本文中予以描述,该编码考虑了在rf鞘驱动的电位中的垂直扩散,平行输运和对流,在模拟中得到的大的密度差别再现了热通量的上下不对称性。

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号