252Cf随机脉冲源法测量CFBR-Ⅱ堆近临界瞬发中子衰减常数

摘要

瞬发中子衰减常数口是表征临界、次临界核系统动态特性的一个参数。在实验室临界、次临界装置上准确测量口，有助于提高对静态核装置物理性质和规律的认识能力。运用252Cf随机脉冲源法测量了CFBR-Ⅱ堆在反应性-10￠（1￠=0．01屈舻为系统缓发中子有效份额）某一状态时的瞬发中子衰减曲线，得到CFBR-Ⅱ堆此状态的雄。