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王月玲; 杨晓刚; 鲍宜鹏;
中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214072;
ADC测试; FPGA; 数模混合仿真; 测试资源优化; 测试方法;
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机译:使用3 GHz ADC和FPGA的VHDL实现,用于测量PD检测电路系统的三轴磁探针的距离测试分布图
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机译:支持基于VHDL自顶向下设计方法开发定制VLsI和FpGa逻辑芯片。总结报告
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机译:FPGA基于芯片的处理仿真测试系统和测试方法
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