基于STM32和多照度传感器融合照度测量系统

摘要

针对新型数字照度传感芯片BH1750FVI的精度的不足，通过多个BH1750FVI模块采集到的照度数据，在STM32主控芯片进行自适应加权融合算法处理，从而实现更高精度测量。经测试表明，相比单个传感器，系统测试精度明显提高，且在单个传感器发生故障时，系统具有更强的容错特性。