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牟浩; 谢经辉; 刘雨从; 王丁; 沈悦; 王林军;
上海理工大学 材料科学与工程学院 上海200093;
中国科学院 上海技术物理研究所 上海200083;
上海大学 材料科学与工程学院 上海200444;
碲锌镉; 晶体缺陷; 激活能; 交流阻抗谱;
机译:使用扫描探针显微镜研究CdZnTe晶体缺陷
机译:Cdznte单晶晶晶体缺陷的HRTEM分析
机译:使用高粒度CdZnTe像素化检测器来纠正由晶体缺陷引起的响应不均匀性
机译:使用扫描扩展电阻显微镜研究CdZnTe晶体缺陷
机译:硅灰石微纤维增强水泥浆的冻融耐久性的交流阻抗谱研究
机译:五氧化二钒纳米带还原的氧化石墨烯纳米片复合材料作为高性能伪电容电极:交流阻抗谱数据建模和理论计算
机译:CdZnTe(Zn〜4%)晶体缺陷的光学和结构研究
机译:阻抗谱及其在分析固液电解质稳态交流(交流电)响应中的应用
机译:使用X射线束设备研究晶体缺陷
机译:表面声波与晶体缺陷相互作用的研究
机译:晶体缺陷的光学研究方法
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