TMR+Scrubbing SRAM加固型FPGA辐照实验研究

孙野; 陈晖照

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针对卫星平台和载荷对大规模集成电路的依赖性越来越强,尤其是SRAM型FPGA.作为信号处理核心器件,FPGA的单粒子效应备受关注.文中研究了三模冗余和动态刷新两种加固方法,并进行重粒子试验验证,采用不同能量的粒子以对照实验的方式验证了加固方法的有效性,试验结果显示,文中设计的加固方法可以提高抗单粒子性能2倍以上.

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来源
《电子科技》 |2013年第10期|139-141|共3页
作者
孙野; 陈晖照;
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作者单位

山东航天电子技术研究所通信事业部,山东烟台264003;

山东航天电子技术研究所通信事业部,山东烟台264003;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数字电路;
关键词
三模冗余; 动态刷新; SRAM FPGA;

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