首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >基于可靠性试验的电子元器件物料评价方法——以IGBT为例

基于可靠性试验的电子元器件物料评价方法——以IGBT为例

         

摘要

电子元器件物料直接影响着整机的质量与可靠性.准确地评价电子元器件物料的优劣对于指导产品选型进而提升整机的可靠性具有重要的意义.提出了基于可靠性试验的电子元器件物料评估方法,从质量一致性、工艺适应性、结构分析、热性能分析和耐久性5个方面建立评价模型,对电子元器件物料进行整体评价.以绝缘栅双极晶体管为例,对6种不同型号的物料开展了基于可靠性试验的评价,最终得到了物料的评价结果,可用于指导产品选型.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号