一种新的元器件可靠性评估方法--结构分析(CA)

张延伟; 江理东; 陈志强

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一种新的元器件可靠性评估方法--结构分析(CA)

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结构分析(CA:construction analysis)是一种通过对元器件的结构进行一系列深入细致的分析来确定元器件的结构是否存在潜在的失效机制的方法.通过CA可以评估制造商的设计能力和工艺水平,也可以确认元器件的结构是否能够满足特定的应用环境要求.CA对应用于高可靠领域内的元器件的质量保证尤为重要.

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2003年第5期|1-3|共3页
作者
张延伟; 江理东; 陈志强;
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作者单位

中国空间技术研究院,北京,100029;

中国空间技术研究院,北京,100029;

中国空间技术研究院,北京,100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN61/65.03;
关键词
结构分析; 可靠性; 元器件;

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