工具痕迹鉴定中的光学技术研究

摘要

工具痕迹由于形成的原因不同,其表面形貌呈现多样性.从尺度范围上,大致可分为两类:一类痕迹尺度范围较大,一般在毫米级以上,可称为宏观痕迹;第二类痕迹尺度范围较小,一般在微米级,可称为微观痕迹.利用光学投影、缩束显微、二维调制图像模数转换及低通滤波去噪算法、小波变换、智能模板相位复原等处理技术,可精确、快速地得到工具痕迹鉴定所需要的形貌信息,这成为用于识别、诊断领域中的光学图像处理新技术.本文介绍上述技术特点,并且提供了典型的应用实例.