逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案

摘要

逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。