J750型SOC测试系统校准技术概述

摘要

SOC芯片是武器装备、大飞机计划、探月工程等国防重要工程的核心电子器件,也是信息社会的基础和关键器件,SOC芯片的性能直接关系到电子装备的质量,SOC芯片的测试需求对SOC测试系统的量值提出了苛刻的要求。文章简单介绍了SOC测试系统的主要校准方案,重点阐述了如何使用分项参数校准法对广泛应用于国内外集成电路测试的J750型SOC测试系统的校准技术。