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罗伟; 姜鑫; 梁世豪; 杜锐;
东北石油大学电子科学学院;
大庆163318;
黑龙江省高校校企共建测试计量技术及仪器仪表工程研发中心;
AFORS-HET; 异质结太阳能电池; 背场层; 缺陷密度;
机译:通过AFORS-HET模拟研究a-Si(N〜+)/ c-Si(P)异质结太阳能电池
机译:C-Si / A-Si:H异质结太阳能电池的模拟性能,NC-Si:H,μC-Si:H,A-SiC:H和A-SiGe:H发射器层
机译:高迁移率In2O3:H作为a-Si:H / c-Si异质结和mu c-Si:H薄膜太阳能电池的接触层
机译:接口状态(DIT)对A-Si / C-Si接口的影响薄膜A-Si / C-Si / C-Si异质结太阳能电池性能
机译:硅基异质结的电子性质研究:a-Si:H / c-Si和GaP / Si异质结的第一个原理研究
机译:通过二维纳米图案化光敏层提高性能的薄膜a-Si:H /μc-Si:H串联太阳能电池
机译:C-si,a-si和a-si:H的实验研究
机译:基于C-SI的复合异质结太阳能电池
机译:具有a-Si和c-Si层的电子照相用部件
机译:在非晶和多晶衬底上薄膜cSi的低温异质外延生长方法以及在非晶,多晶和晶体衬底上的c-Si器件的低温异质外延生长方法
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