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孙浩明; 王志红; 曾慧中; 古曦;
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室;
扫描探针显微镜; 微区电容; 锁相放大; C-z曲线; C-V曲线;
机译:摩擦学测试与测量技术(一):扫描激光显微镜/扫描探针显微镜组合装置的技术与应用
机译:扫描探针显微镜(SPM)在铁电电容器新型表征中的应用
机译:螺旋扫描原子力显微镜大面积测量中探针尖端对中误差对测量结果的影响
机译:使用扫描探针显微镜进行定量电容测量。
机译:用于扫描探针显微镜和分子电子学实验的碳纤维针尖
机译:扫描探针显微镜:具有外延半导体层的扫描探针尖端的功能化
机译:扫描探针尖端电场感应电阻传感器的制作与表征
机译:用于扫描探针显微镜的探针单元,用于测量例如半导体结构的沟槽结构的侧壁的表面粗糙度,具有设计成圆盘的探针尖端,其中圆盘的高度小于半径的特定百分比
机译:试样特性的测量方法和装置及其在扫描探针显微镜高频响应测量中的应用
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