吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能

摘要

2008年7月29日，美国吉时利（Keithley）仪器公司发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。