一种基于微处理器的SOC自测试方案

摘要

提出了一种基于片上微处理器和透明路径测试访问的SOC自测试方案。以片上微处理器为测试加载和响应收集比较的主体,构造透明路径并行传输测试数据,以嵌入程序控制测试过程。可以在提高测试速度的同时,降低对测试设备性能的依赖,并可以进行全速测试,所需额外面积开销较小。实验表明,该测试方案是有效的。