SPIE 会议文集 1163卷——条纹图分析

摘要

1 相移技术场移云纹:一种绝对值测量的新技术(A.J.Boehnlein等,美国工业技术研究所)。正弦位相调制的激光二极管干涉仪(带有能抑制外部干扰的反馈控制系统)(O.Sasaki等,日本Niigata大学)。动态条纹投影非接触式测量(M.M.Shaw等,英国Liverpool工学院)。用杨氏条纹鉴相器的高精度延迟测量(S.Nakadate,日本东京工业大学)。六闪光(Hexflash)位相分析实例(L.N.Mertz,美国Lockheed研究实验室)。