退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
J.P.Colinge; 陈其林;
HP公司实验室;
SOI; MOSFET器件; 扭曲效应; 薄膜;
机译:薄膜累积模式p沟道SOI MOSFET中的短沟道效应
机译:薄膜SOI MOSFET中的栅极耦合和浮体效应
机译:超薄膜SOI MOSFET的浮体效应和热载流子效应
机译:硅薄膜厚度缩放对完全耗尽的薄膜SOI MOSFET中热载流子效应的影响
机译:完全耗尽的SOI MOSFET中的浮体效应。
机译:超薄Hf-Ti-O高k栅介电薄膜的电学特性及其在ETSOI MOSFET中的应用
机译:使用GIDL电流技术分析薄膜常规和单口袋SOI MOSFET中的浮体效应
机译:亚微米近固有薄膜sOI互补mOsFET。
机译:减小SOI MOSFET浮体效应的结构和方法
机译:用于消除SOI MOSFET中的浮体效应的SOI半导体集成电路及其制造方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。