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刘淑芬; 崔星;
北京控制工程研究所;
计算机; RAM; EDAC; 电路设计; 仿真; FPGA; 检错纠错电路; 可靠性; 故障模式; SEU; 电路模块; 设计原理;
机译:d
机译:t纠错/ d检错(d
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