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多光子跃迁理论中一种新的微扰级数的剖析

         

摘要

在文[1]中,作者之一提出一种计算多光子跃迁几率的新方法,这个方法实际上是一种新的微扰方法。在文[2]和文[3],我们将这种方法应用于氢原子的非共振和共振多光子电离过程,所得到的光电子角分布,离子产额与光强的依赖关系都与实验结果符合得相当好。本文对这一方法的两个问题作进一步的探讨,即微扰级数的收敛问题以及这一方法与传统的微扰方法的定量比较问题。

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