半导体红外发光二极管的高频亮度和相位分布均匀性测量

摘要

＜正＞ 引言随着我国测距技术的发展,光电相位测距法越来越引起人们的重视。采用半导体发光管和激光器为光源的测距仪,由于它具有重量轻、体积小等优点,目前,正被广泛地采用于各种勘测和施工测量中。光电相位法测距仪的主要工作原理是:对机内半导体发光（或激光）二极管所发出的光进行高频调制,测出此调制光从目标反射回来的相位差,由此精确地测定仪器至目标的距离。红外发光二极管（或激光器）是测距仪的核心元件,由于发光管发光面上各点所发出的调制光之间有一定的相位差（称相位不均匀效应）,在实际测距中又无法每次都用