用交流直流法测试Si-PD器件输入-输出线性

摘要

测试PD器件线性的方法很多。本方法是利用同时辐射光敏面上两束光,即在适当强度的直流光上,再叠加一束辐射通量很弱的调制光。当直流光增大到一定程度时,会使交流分量输出变小以致趋于零,从而测出器件的线性范围。与其它方法比较,有简便宜行,测试准确的优点。尤为突出的是噪声,衍射、干涉、环境等干扰容易消除。它不仅适用Si—PD,而且对其它任何一种探测器均可应用。测试准确度可达1%左右。