基于嵌入式的金属玻璃晶化测控系统设计

摘要

金属玻璃晶化电特性是表征金属玻璃晶化过程晶核组织结构的一项敏感性能指标。为获这些性能指标及其外界影响因素等实验数据,则先要研究晶化电阻率及其温度控制的测试和控制方法,为此设计了一套基于嵌入式的PID模糊控制系统。以嵌入式STC89C52单片机为核心,采用Smith模糊自适应PID控制方法,设计了嵌入式智能温度控制系统,提高了控制的实时性、稳定性和精确性;同时设计了晶化电阻率四探针测试方法,从而为获取较准确的温度、电特性等实验数据奠定了基础。