晶体管输出型光电耦合器长期储存寿命研究

摘要

介绍了两种长期储存寿命的考核方法,通过对晶体管输出型光电耦合器进行加速寿命试验,记录数据并进行统计分析,利用寿命模型推算出了晶体管输出型光电耦合器常温下的储存寿命。