首页> 中文期刊> 《半导体光电》 >电子元器件SPC体系文件模型及符合性探讨

电子元器件SPC体系文件模型及符合性探讨

         

摘要

通过对有关标准要求的分析,提出统计过程控制(SPC)体系文件的组成、构架,形成与质量管理体系文件相对应的SPC体系文件模型,并对文件编制过程中的相关薄弱环节与标准的符合性进行了探讨,给出了推荐做法。以期对各实施SPC的电子元器件单位有一定的实用性指导。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号